Mgr Jakub Szlachetka (absolwent fizyki) uzyskał nagrodę III stopnia w XXIX Konkursie PKOpto 2020 im. Profesora Adama Smolińskiego na najlepsze prace dyplomowe z zakresu optoelektroniki za pracę magisterską pt. "Zjawisko kwantowej interferencji fotonów na nieunitarnych płytkach światłodzielących" napisaną pod opieką dr. Piotra Kolenderskiego.
Lic. Michał Żebrowski (absolwent fizyki stopnia pierwszego) dostał się do finału powyższego konkursu z pracą licencjacką "Wpływ modulacji wzbudzenia na właściwości emisji antystokesowskiej jonu Er3+". Opiekunem był dr hab. Dawid Piątkowski, prof. UMK.
Praca magisterska Pana Szlachetki pokazała, w jaki sposób można sterować interferencją klasyczną oraz kwantową. Zaprezentowała ten problem w aspekcie teorii oraz eksperymentu. "Warunkiem podstawowym do tego, żeby interferencja była obserwowana jest nierozróżnialność cząstek biorących w niej udział. W pracy została przetestowana kwantowa interferencja na metamaterialnym dzielniku wiązki. Kontrolowanie zjawiska interferencji jest ważne w technologi oraz bardzo precyzyjnych pomiarach. Jednym z przykładów jest wykrycie fal grawitacyjnych." - wyjaśnia Pan Jakub.
W swojej pracy licencjackiej Pan Żebrowski badał zieloną i czerwoną luminescencję nanokryształów aktywowanych jonami erbu. Zauważył, że względne natężenie tych dwóch linii emisyjnych silnie zależy od częstotliwości modulacji lasera pobudzającego. W pracy został przedstawiony model kinetyczny który efekt ten tłumaczy poprzez wskazanie dwóch rozdzielnych kanałów aktywacji luminescencji. Badania były prowadzone na poziomie pojedynczych nanokryształów z wykorzystaniem złożonych technik mikroskopii konfokalnej. Uzyskane dane stanowią ważny wykład do przygotowywanej publikacji.
Wyniki dostępne są na stronie: http://pkopto.ise.pw.edu.pl/?q=node/96
Polski Komitet Optoelektroniki Stowarzyszenia Elektryków Polskich (SEP) organizuje w co roku Ogólnopolski Konkurs im. Profesora Adama Smolińskiego na najlepsze prace dyplomowe z zakresu optoelektroniki; w szczególności dotyczące badań zjawisk podstawowych, technologii i konstrukcji przyrządów oraz metrologicznej aparatury optoelektronicznej. Więcej:
