KontaktGrudziądzka 5, 87-100 Toruń
tel.: +48 56 611 3310
fax: +48 56 622 5397
Prototyp przekształtnika Prototypowanie nastaw regulatora Zajęcia w programie Szkoła Zawodowców System pomiaru odcinka czasu wyróżniony złotym medalem na 6 Międzynarodowej Wystawie Wynalazków Innowacje 2005, w Gdańsku Studium Politechniczne UMK

Pracownia Fizycznych Podstaw Mikroelektroniki








Tematy ćwiczeń

  1. Technologia warstw i struktur epitaksjalnych.
    • struktury MIS,
    • metoda naparowywania próżniowego,
    • dip-coating.
  2. Wykonywanie kontaktów w strukturach półprzewodnikowych i ich badanie.
    • metoda przytapiania,
    • metoda naparowywania,
  3. Widma absorpcji (spektrofotometr UV-VIS)
  4. Fotoprzewodnictwo cienkich warstw i kryształów.
    • charakterystyki widmowe,
    • stałe czasowe,
    • wyznaczanie energii pułapek metodą niestacjonarnego przewodnictwa (PICT).
  5. Luminescencja cienkich warstw i kryształów.
    • fotoluminescencja I(T),
    • elektroluminescencja I(T),
    • termiczne gaszenie luminescencji.
  6. Spektroskopia defektów z głębokimi stanami metodami złączowymi.
    • metoda niestacjonarnej pojemności (DLTS),
    • metoda termicznie stymulowanej pojemności.
  7. Przewodnictwo zmiennoprądowe.
    • zależności G i C od częstotliwości,
    • zależności G i C od temperatury.
  8. Fotopojemnościowe badanie struktur.
    • zmiana pojemności w funkcji długości fali,
    • wyznaczanie optycznych przekrojów czynnych,
    • zależności C(T) przy różnych oświetleniach.
  9. Wyznaczanie koncentracji i ruchliwości nośników.
    • przewodnictwo stałoprądowe,
    • efekt Halla,
    • efekt foto-Halla.
  10. Termicznie stymulowana depolaryzacja struktur półprzewodnikowych.
  11. Widma odbicia i transmisji cienkich warstw, struktur wielowarstwowych i kryształów.
    • metody stacjonarne,
    • metody modulacyjne.
  12. Badanie półprzewodników w podczerwieni.
    • widma odbicia w podczerwieni,
    • widma transmisji w podczerwieni.
  13. Elipsometria.
    • wyznaczanie grubości warstw,
    • wyznaczanie współczynnika załamania.
  14. Widma wzbudzenia cienkich warstw i kryształów.
  15. Optoelektronika.
    • pryzmaty sprzężone.
  16. Kinetyka luminescencji cienkich warstw i kryształów.
    • czasy zaniku,
    • widma opóźnione w czasie (TRS).

Warunki zaliczenia Pobierz


Regulamin Pracowni Fizycznych Podstaw Mikroelektroniki Pobierz